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信頼性解析技術委員会

エレクトロニクス実装の基盤技術となる信頼性解析技術について、業界が課題としていることにフォーカスし、学会でなければ解決できない技術的課題に取組むことを目的に活動している。

当技術委員会では、「ECM研究会」(エレクトロケミカルマイグレーションの発生メカニズムと抑制技術に関する議論および評価手法の規格化を目的)と「錫ウィスカ研究会」(鉛フリー化する電子部品の致命的なリスクとなりうる錫ウィスカの発生メカニズムおよび抑制手法について議論することを目的)を組織している。

委 員 長
廣畑賢治(東芝)
副委員長
中村直章(富士通アドバンストテクノロジ)
岡本秀孝(日本規格協会)

ECM研究会

エレクトロケミカルマイグレーション(ECM)に関する研究会設立以来、共同実験を通して原因の解明とノウハウをまとめた冊子の発行をし、これを基とした公開研究会を行なってきました。これからもECMの要因解析を目指した実験を行なうと共に、今まで以上に広くECM評価に対しての重要性を認識していただくための普及活動として、不具合・故障事例集を作成する活動を行っています。また、JPCAと協力して情報を国際的に公開し、試験規格化も活動中です。

注: ECMとは電極間の絶縁層が高温湿度環境下で直流電圧が印加されているとアノードから電極金属がイオンとして溶出し、これが還元析出して電極間を短絡する現象です。

主査:
津久井 勤(リサーチラボ・ツクイ)
幹事:
高木 清(NPO法人サーキットネットワーク)
幹事:
岡本 秀孝(財団法人日本電子部品信頼性センター)
【連絡先】
宇敷 滋
(太陽インキ製造株式会社)

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