(2019TC31)官能検査システム化研究会　第13回公開研究会(2020年1月21日13:30～於回路会館)

○13：00　受付開始

○13：30　開会挨拶（主査　野中一洋（産総研））

○13：35～14：15
　「外観検査に用いられる透視投影画像の自動生成機構の研究」
　　立命館大学　石井　明
要旨：人の視覚系に現れる透視投影画像の自動生成技術は、産業製品の目視検査を自動化する上で重要であり、また自動検査装置のほか、生産性向上のための目視検査と自動検査の協働方式を実現する上でも有用である。機構開発の事例を紹介する。

○14：15～14：55
　「ディープラーニング搭載画像認識システムAI Inspector～AIを外観検査や異物検査に用いるコツ～」
　　株式会社トラスト・テクノロジー　山本隆一郎
要旨：ディープラーニングは人が目で見分けるのと近い感覚で画像分類が行えるため、目視検査の自動化を実現することができます。
本公演では、いち早く産業界にディープラーニング技術を展開している当社の視点で、AIを産業向け検査に用いるコツを解説いたします。

○14：55～15：35
　「トリリオンセンシングにおける画像計測を利用した欠陥検出・評価技術の開発(仮)」
　　産総研　坂田義太朗
要旨：年間1兆個(トリリオン)のセンサの使用による大規模ネットワークの構築を目指すIoT社会の中で、重要とされているセンシングについて、本講演では、トリリオンセンサの世界観について紹介するとともに、画像計測技術を利用した検査技術およびSMART VISUALIZATIONに向けた検査技術について報告する。

（15：35～15：45　休憩）

○15：45～16：25
　「高感度分光法を用いた非接触のインフラ劣化診断」
　　産総研　渡部　愛理
要旨：コンクリート構造物の点検では目視や破壊検査が主流だが、安全面やコスト削減の観点から交通規制や人の近接を不要とする方法が求められている。塩害の測定を例に挙げ、非破壊で劣化状態を診断する高感度分光技術を紹介する。

○16：25～17：05
　「配線板パターン検査装置適用における課題と効果」
　　日本大学　原　靖彦
要旨：配線板製造工程においては種々の外観検査装置が用いられている。
しかし検査装置を適用した際の課題や効果については殆ど外部に公表されない。
本報告ではプリント配線板パターンの外観検査装置について方式を簡潔にまとめた。
次に検査装置運用における課題、検査装置の欠陥検出能力、検査装置適用の効果について公開された文献を基にまとめた。

○17：05　閉会挨拶

○17：15～18：15　技術交流会

※プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。

※学生の方は、学生証を受付で提示してください。
注１）参加費は当日受付で徴収します。つり銭の無いようご準備をお願いします。
注２）賛助会員クーポンのご利用はできません。
注３）交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を所定欄にご記入ください。