(TC31)官能検査システム化研究会 第10回公開研究会(2018年1月24日13:30~於回路会館)


官能検査システム化研究会 第10回公開研究会『IoT時代における検査とは』

AIST製造技術イノベーション協議会 インスペクション技術研究会協賛

官能検査システム化研究会
主査 野中一洋(産総研)
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◆開催趣旨

IoTの到来とともに産業・社会は大きな変革の時を迎えています。さまざまな階層、グループでのつながりによって、製造分野においても新たなビジネスの可能性が大きく広がりを見せています。その一方で、これまで世界最高水準とされてきた日本の高品質・高信頼なものづくり力が大きく揺らいでおり、根本から見直しを迫られています。現場力を回復させるためのツールや手法、制度などの開発・整備は、喫緊の課題となっています。

本公開研究会では、IoT時代に対応する品質、プロセス、およびデータ管理などに関する最新の検査技術、センシング技術、およびシステム化技術(CPS)などについて、具体事例を交えてご紹介します。講演会終了後には交流会(無料)も予定しています。
皆さまの積極的なご参加をお待ちしております。

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官能検査システム化研究会 第10回公開研究会 参加申込みフォーム

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