官能検査システム化研究会 第10回公開研究会『IoT時代における検査とは』
AIST製造技術イノベーション協議会 インスペクション技術研究会協賛
官能検査システム化研究会
主査 野中一洋（産総研）
参加申込みフォームはこちら
◆開催趣旨
IoTの到来とともに産業・社会は大きな変革の時を迎えています。さまざまな階層、グループでのつながりによって、製造分野においても新たなビジネスの可能性が大きく広がりを見せています。その一方で、これまで世界最高水準とされてきた日本の高品質・高信頼なものづくり力が大きく揺らいでおり、根本から見直しを迫られています。現場力を回復させるためのツールや手法、制度などの開発・整備は、喫緊の課題となっています。
本公開研究会では、IoT時代に対応する品質、プロセス、およびデータ管理などに関する最新の検査技術、センシング技術、およびシステム化技術（CPS）などについて、具体事例を交えてご紹介します。講演会終了後には交流会（無料）も予定しています。
皆さまの積極的なご参加をお待ちしております。
開催概要(クリックすると非表示にできます。再度クリックすると表示されます)
| 開催日時 |
2018年1月24日（水） 13:30～17:10 |
| 会 場 |
回路会館 地下会議室
ＪＲ中央線西荻窪駅下車徒歩約７分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2 TEL.03-5310-2010
アクセス
|
| テーマ |
「IoT時代における検査とは」
|
| プログラム |
13:00 受付開始
13：30 開会挨拶（野中 一洋 主査）
13：35～14：15
講演１「スマートグリーン製造における計測制御プラットフォームの開発」
摂南大学 諏訪 晴彦
14：15～14：55
講演２ 「Deep Learningを応用した製造業向け外観検査ソフトウェア」
システム計画研究所 井上 忠治
（14：55～15：10 休憩）
15：10～15：50
講演３ 「目視官能検査の自動化技術 −電子ディスプレイ画質検査を事例として−」
広島工業大学 浅野 敏郎
15：50～16：30
講演４ 「プラズマエッチングプロセスにおけるパーティクル検出手法の開発」
産業技術総合研究所 笠嶋 悠司
16：30～16：50
新設研究会の紹介 「ボード検査の一方式、バウンダリスキャン研究会４月１日発足のご案内」
愛媛大学 亀山 修一(発起人)
16：50～17：10 フリーディスカッション
17：10～18：10 技術交流会
※プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。
|
| 定 員 |
100名(先着申込順 定員になり次第締め切ります)
〈参加申し込みは当日まで受け付けますが、予稿集などの準備の関係上、事前登録にご協力をお願いします。〉
参加者の皆様にはご名刺を頂戴いたしますので、ご用意ください。ご名刺がない場合には、ご記帳いただきます。
|
| 参 加 費 |
(予稿集代込み、消費税込み)
| 正会員： |
5,000円 |
| 学生会員： |
無料 |
| シニア会員： |
1,000円 |
| 名誉会員： |
無料 |
| 賛助会員の社員： |
6,000円 |
| 非会員一般： |
10,000円 |
| 非会員学生： |
1,000円 |
※学生の方は、学生証を受付で提示してください。
注１）参加費は当日受付で徴収します。つり銭の無いようご準備をお願いします。
注２）賛助会員クーポンのご利用はできません。
注３）交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を所定欄にご記入ください。
|
| 問い合わせ先 |
エレクトロニクス実装学会 事務局
E-mail：ase\jiep.or.jp
（メールアドレスは\を@に置き換えてください）
|
官能検査システム化研究会 第10回公開研究会 参加申込みフォーム
***参加申込は締め切りました***
