官能検査システム化研究会 第12回公開研究会
AIST製造技術イノベーション協議会 インスペクション技術研究会協賛
官能検査システム化研究会
◆開催趣旨
IoTの到来とともに産業・社会は大きな変革の時を迎えています。さまざまな階層でのつながりによって、製造分野においても新たなビジネスの可能性が大きく広がりを見せています。その一方で、これまで世界最高水準とされてきた日本の高品質・高信頼なものづくり力が大きく揺らいでおり、根本から見直しを迫られています。現場力を回復させるためのツールや手法、制度などの開発・整備は、喫緊の課題となっています。
本公開研究会では、IoT時代に対応する検査技術・評価技術として、AIの検査応用を中心に、画像、音響、及びX線などを用いた最新の検査技術をご紹介します。
講演会終了後には交流会（無料）も予定しています。
皆さまの積極的なご参加をお待ちしております。
開催概要(クリックすると非表示にできます。再度クリックすると表示されます)
| 開催日時 |
2019年7月23日（火） 13:30～16:50 |
| 会 場 |
回路会館 地下会議室
ＪＲ中央線西荻窪駅下車徒歩約７分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2 TEL.03-5310-2010
アクセス
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| テーマ |
「IoT時代における検査」
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| プログラム |
13:00 受付開始
13：30 開会挨拶
13：35～14：15
一般講演1「画像検査へのAI応用に関する特色や開発の方向性」
名城大学 成田 浩久
14：15～14：55
一般講演2「画像認識AI「Deeptector (R)」製造業の検品作業への適用」
NTTコムウエア 宮下 直也
14：55～15：35
一般講演3「薄型AEセンサと機械学習を用いたワイヤボンディングの接合良否判定」
産総研 小石 泰毅
（15：35～15：50 休憩）
15：50～16：30
一般講演4「３次元CT方式＋X線ステレオ方式X線検査装置」
アイビット 向山 敬介
16：30～16：50 フリーディスカッション
16：50 閉会挨拶
17：00～18：00 技術交流会
※プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。
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| 定 員 |
100名(先着申込順 定員になり次第締め切ります)
〈参加申し込みは当日まで受け付けますが、予稿集などの準備の関係上、事前登録にご協力をお願いします。〉
参加者の皆様にはご名刺を頂戴いたしますので、ご用意ください。ご名刺がない場合には、ご記帳いただきます。
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| 参 加 費 |
(予稿集代込み、消費税込み)
| 正会員： |
5,000円 |
| 学生会員： |
無料 |
| シニア会員： |
1,000円 |
| 名誉会員： |
無料 |
| 賛助会員の社員： |
6,000円 |
| 非会員一般： |
10,000円 |
| 非会員学生： |
1,000円 |
※学生の方は、学生証を受付で提示してください。
注１）参加費は当日受付で徴収します。つり銭の無いようご準備をお願いします。
注２）賛助会員クーポンのご利用はできません。
注３）交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を所定欄にご記入ください。
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| 問い合わせ先 |
エレクトロニクス実装学会 事務局
E-mail：ase\jiep.or.jp
（メールアドレスは\を@に置き換えてください）
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官能検査システム化研究会 公開研究会 参加申込みフォーム
注意事項
- 掲題の参加申込みフォームです
- 複数人にて応募する場合は1件ずつ登録ください
- 定員になり次第、応募を締め切ります
- （必須）は必須項目です。入力しないと送信できません
＊ メールアドレス入力ミスで、返信（受付完了）メールが不達になることが頻発しています。
入力後の再確認をお願いいたします。
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※[送信]をクリックすると申し込みが完了し、ご入力いただいたメールアドレスに確認メールが送信されます。
送信完了画面が表示されるまで、少し時間がかかります。そのままお待ちください。
受付完了のメール文をプリントアウトして当日お持ちください。
