(TC11)官能検査システム化研究会 第9回公開研究会(2017年7月26日13:30~於回路会館)


官能検査システム化研究会 第9回公開研究会『IoT時代における次世代の検査とは』

AIST製造技術イノベーション協議会 インスペクション技術研究会協賛

官能検査システム化研究会
主査 野中一洋(産総研)
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◆開催趣旨

IoT、ビッグデータ、AI活用など、産業の形態はあらたな進化を迎えています。しかしながら、ものづくりを支える検査については、他の工程に比べて新しい技術の導入が進んでおらず、とくに目視検査など、人手に頼った検査が製造の各所に残されています。ロボット化の進んだ最新工場ですら検査工程だけは逆に人の塊ができてしまっているというのが現状です。しかし、今後は、生産性向上、品質確保、労働力・熟練者の減少など、差し迫った課題への対応と共に、製造業のサービス化など、次代を見据えた対応が問われています。検査工程も生産工程全体、あるいは、サービス化等のビジネス戦略を見据えた観点から、見直していく必要があると考えます。

当研究会では、ものづくりの現場で実施されている官能検査の自動化・システム化について、可視化、数値化、高速化、および共通化など、これまで様々な角度から幅広い議論を行っています。今回は、これまでの参加者の皆様からご要望の大きいAIの検査応用をはじめ、画像処理、センシング、および異常診断等に関する最新技術について具体事例を交えてご紹介いただきます。講演会終了後に交流会(無料)も予定しています。

皆さまの積極的なご参加をお待ちしております。

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官能検査システム化研究会 第9回公開研究会 参加申込みフォーム

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