(TC11)官能検査システム化研究会 第9回公開研究会(2017年7月26日13:30~於回路会館)


官能検査システム化研究会 第9回公開研究会『IoT時代における次世代の検査とは』

AIST製造技術イノベーション協議会 インスペクション技術研究会協賛

官能検査システム化研究会
主査 野中一洋(産総研)
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◆開催趣旨

IoT、ビッグデータ、AI活用など、産業の形態はあらたな進化を迎えています。しかしながら、ものづくりを支える検査については、他の工程に比べて新しい技術の導入が進んでおらず、とくに目視検査など、人手に頼った検査が製造の各所に残されています。ロボット化の進んだ最新工場ですら検査工程だけは逆に人の塊ができてしまっているというのが現状です。しかし、今後は、生産性向上、品質確保、労働力・熟練者の減少など、差し迫った課題への対応と共に、製造業のサービス化など、次代を見据えた対応が問われています。検査工程も生産工程全体、あるいは、サービス化等のビジネス戦略を見据えた観点から、見直していく必要があると考えます。

当研究会では、ものづくりの現場で実施されている官能検査の自動化・システム化について、可視化、数値化、高速化、および共通化など、これまで様々な角度から幅広い議論を行っています。今回は、これまでの参加者の皆様からご要望の大きいAIの検査応用をはじめ、画像処理、センシング、および異常診断等に関する最新技術について具体事例を交えてご紹介いただきます。講演会終了後に交流会(無料)も予定しています。

皆さまの積極的なご参加をお待ちしております。

開催概要(クリックすると非表示にできます。再度クリックすると表示されます)
開催日時 2017年7月26日(水) 13:30~17:10
会  場 回路会館 地下会議室
JR中央線西荻窪駅下車徒歩約7分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2  TEL.03-5310-2010
アクセス
テーマ 「IoT時代における次世代の検査とは」
プログラム
13:00 受付開始

13:30 開会挨拶(野中 一洋 主査)

13:35~14:20
  一般講演1 「深層学習・機械学習を取り入れた外観検査」
    みずほ情報総研 永田 毅

14:20~15:05
  一般講演2 「人工知能を活用した検査業務効率化の動向と今後の展開」
    NEC  神南 吉宏

(15:05~15:20 休憩)

15:20~16:05
   一般講演3 「電力設備保守における目視検査の自動化に向けて」
    電力中央研究所 中島 慶人

16:05~16:50
  一般講演4 「アンサンブルMT法と薄型AEセンサの適用によるワイヤボンディングの接合状態推定」
    産総研 石田 秀一

16:50~17:10 フリーディスカッション

17:10~18:10 技術交流会

※プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。

定  員 100名(先着申込順 定員になり次第締め切ります)
〈参加申し込みは当日まで受け付けますが、予稿集などの準備の関係上、事前登録にご協力をお願いします。〉
参加者の皆様にはご名刺を頂戴いたしますので、ご用意ください。ご名刺がない場合には、ご記帳いただきます。
参 加 費 (予稿集代込み、消費税込み) 

正会員: 5,000円
学生会員: 無料
シニア会員: 1,000円
名誉会員: 無料
賛助会員の社員: 6,000円
非会員一般: 10,000円
非会員学生: 1,000円

※学生の方は、学生証を受付で提示してください。
注1)参加費は当日受付で徴収します。つり銭の無いようご準備をお願いします。
注2)賛助会員クーポンのご利用はできません。
注3)交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を所定欄にご記入ください。

問い合わせ先 エレクトロニクス実装学会 事務局
E-mail:ase\jiep.or.jp
(メールアドレスは\を@に置き換えてください)

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***参加申込は締め切りました***


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