社団法人エレクトロニクス実装学会
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JIEP官能検査システム化研究会 第7回公開研究会開催のご案内
AIST製造技術イノベーション協議会 インスペクション技術研究会協賛
〈IoT時代を見据えた検査と新事業展開〉
官能検査システム化研究会
主査 野中一洋(産総研)

◆ 開催趣旨
 IoT、ビッグデータ、AI活用など、産業の形態はあらたな進化を迎えています。今後、大きな産業変革が予想される中で、日本の強みである高品質・高信頼・高効率なものづくりをどのように実現・発展させていくのかなど、これらを支えている検査技術についてもその取り組みが問われています。
 当研究会では、ものづくりの現場で実施されている官能検査の自動化・システム化について、可視化、数値化、高速化、および共通化など、様々な角度から議論を行っています。今回は、検査技術についてもその活用が大いに期待されるAI、とくにディープラーニングについて、デモを含めたショートセミナーを企画しました。また、具体的な検査技術についても、新技術、新システム、標準化・規格化と新展開など、最新情報を紹介します。講演会終了後に交流会(無料)も予定しています。
 皆さまの積極的なご参加をお待ちしております。
     
開催日時: 平成28年7月27日(水)〈13:30~17:00〉
会場: 回路会館 地下会議室
JR中央線西荻窪駅下車徒歩約7分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2  TEL.03-5310-2010
地図 → http://www.e-jisso.jp/intro/intro07.html
テーマ: 〈IoT時代を見据えた検査と新事業展開〉
プログラム
○ 13:00
受付開始
○ 13:30
開会挨拶(野中 一洋 主査)
(AIによる自動検査のショートセミナー)
○ 13:35~13:55
「AIによる自動検査とは」
ロンド・アプリウエアサービス 中崎 勝
○ 13:55~14:25
「AI概論とデモ」
グルーヴノーツ 二角 直秀、リアクティブ 飯沼 純
○ 14:25~14:35
QA
(14:35~14:45 休憩)
(外観検査の最新情報)
○ 14:45~15:25
一般講演1「測長機と外観検査装置の融合」
ステラ・コーポレーション 大竹 信男
○ 15:25~16:05
一般講演2「水素エネルギー社会を支援する応力発光を用いた力学分布の可視化技術」
産業技術総合研究所 藤尾 侑輝
(16:05~16:15 休憩)
○ 16:15~16:55
一般講演3「めっきムラ客観評価技術:ムラの数値化、標準化・規格化、および今後の展開」
産業技術総合研究所 野中 一洋
○ 17:15~18:15
技術交流会(名刺交換、情報交換等)
注1)プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。
定 員 100名(先着申し込み順 定員になり次第締め切ります)
〈参加申し込みは当日まで受け付けますが、予稿集などの準備の関係上、事前登録にご協力をお願いします。〉
参加者の皆様にはご名刺を頂戴いたしますので、ご用意ください。ご名刺がない場合には、ご記帳いただきます。
参加費 参加費(予稿集代込み、消費税込み)
正会員:4,000円
学生会員:無料(学生証を受付で提示してください)
シニア会員:1,000円
賛助会員:5,000円
非会員:8,000円
非会員学生:1,000円(学生証を受付で提示してください)
注1) 参加費は当日受付で徴収します。つり銭の無いようご準備をお願いします。
注2) 賛助会員クーポンのご利用はできません。
注3) 交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を所定欄に入力ください。
申込方法 申し込みはここから。
登録されますと参加登録確認メールが返信されます。
申し込みをキャンセルされる場合はこちらへ。
問い合わせ先 エレクトロニクス実装学会 事務局
ase@jiep.or.jp
(本メールアドレスはSPAM対策のため@を全角で表示しております。)
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