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「ＨＡＳＴによる加速劣化試験と国際標準の動向」 |
| ★期日 ： |
１２月９日（火）１３：３０～１７：００ |
| ★会場 ： |
国立オリンピック記念青少年総合センター
１０１号(センター棟１Ｆ)
http://www.nyc.go.jp/users/d7.html |
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[注意]会場が学会会議室からオリンピック青少年センターに変わりました。 |
| ★プログラム（予定） |
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| 13:30～14:50 |
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(1) |
開会の挨拶（5分） |
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津久井 勤（東海大学） |
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(2) |
ＵＬのグローバル化と最近の活動状況（60分） |
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青木 正光（ユーエル エーペックス） |
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(3) |
質疑（15分） |
| 14:50～15:10 休憩 |
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| 15:10～17:00 |
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(4) |
ＨＡＳＴの現状調査（20分） |
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前野 善信（富士通） |
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(5) |
ＨＡＳＴの成果発表（20分） |
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中小路 靖（京セラＳＬＣテクノロジー） |
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(6) |
ＨＡＳＴ評価のノウハウについて（30分） |
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中村 和裕（新光電気） |
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(7) |
総合討論 |
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| ★参加費（資料代・消費税込み） |
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| 会員（賛助会員含む）＝３０００円 |
| 非会員＝５０００円 |
参加費は，当日，会場受付で現金にて頂きます。
（請求書の発行はいたしません） |
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| ★参加申込 |
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