社団法人エレクトロニクス実装学会

｜Home｜Sitemap｜Contact｜

研究会の紹介/研究会名と活動概要/イオンマイグレーション試験法研究会/

（社）エレクトロニクス実装学会信頼性解析技術委員会
イオンマイグレーション評価法研究会

　日頃はJIEPイオンマイグレーション評価法研究会にご協力頂き誠に有り難うございます。最近の電子機器の小型軽量化と高機能化にともない、益々高密度実装が進んでおり、加えてその領域も拡大しております。その結果、今までマイグレーションによる劣化とは関係ないと思われていた分野におきましてもその対策が必要になってきております。
　このような背景から、上記のトレンドに対応するため先に発行しておりました「イオンマイグレーション評価方法」（２００５）を改訂し、名称も変更して「エレクトロケミカルマイグレーション評価方法（約１００頁）」を発行致しました。そこで公開研究会を開催して、この冊子の紹介と、併せて最近のIPCやIECの動向の紹介、当研究会活動の紹介、更には最近話題の微細配線技術と信頼性についてのご講演もお願いしております。
　講演終了後はささやかな技術交流会も設けてございます。関係各位の多数のご参加をお待ち致しております。

定員に達しましたので、受付を終了しました

日　時：

２００７年９月７日（金）１３：３０～１７：００会

会　場：

回路会館地下会議室　　東京都杉並区西荻北3-12-2
地図 http://www.e-jisso.jp/intro/intro07.html

参加費：

会員　７０００円、非会員　１００００円
資料込み「エレクトロケミカルマイグレーション評価方法」　　　　　　　　　　
全１００ページ　カラー５０ページ

定員：

９０名　定員になり次第締め切らせて頂きます。

お申し込み：

下記参加申し込み票に必要事項をご記入の上、同票記載のE-mailまたはFAXにてお申し込み下さい。

プログラム：

1.	冊子改正の趣旨と概要、研究会活動の状況リサーチラボ・ツクイ　津久井　勤氏
2.	冊子内容の説明１）試験条件と評価試料　　高木技術士事務所　高木　清氏２）試験方法　　　　　財団法人　日本電子部品信頼性センター　岡本　秀孝氏３）電気計測　　ＩＭＶ株式会社　徳光　芳隆氏４）故障解析と分析　　　　　　　　　株式会社ケミトックス　兵藤　慎也氏
3.	IPC,IECの最近の活動状況日本電子回路工業会
4.	研究会活動状況報告(CAFによる劣化を中心に) 新光電気工業株式会社　中村　和裕氏
5.	依頼講演１）COF(Chip on Film)基材におけるイオンマイグレーション挙動　三井金属鉱業（株）　松村　保範氏２）フレキ基板上の微細配線におけるマイグレーション挙動と評価法の確立　（株）ミスズ工業　　伊澤　早苗氏

JIEPエレクトロケミカルマイグレーション評価法研究会
「公開研究会」参加申込票

申し込み票ご送付先
E-mail: migration@my.home.ne.jp
FAX：020-4665-7462

・氏　名：
・会社／機関名：
・所属：
・E-mail：

会員、非会員の別（該当項に◯印をお願いします）
JIEP会員（会員番号：　　　）、非会員

技術交流会(該当項に○印を付けて下さい)
(　　)参加　　　　　(　　)不参加　　　

会員区分にご記入がない場合は、非会員として受付処理をさせていただきますので、会員の方は必ずご記入ください。

定員は９０名です。定員になり次第締め切らせて頂きます。