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共 催： |
イオンマイグレーション試験法研究会／信頼性解析技術委員会 |
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期 日： |
2005年6月2日（木） 13：30 - 16：30 |
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会 場： |
東京ビッグサイト 会議棟1F 101号室 |
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プログラム：
（予定） |
| 1. |
『開会の挨拶（5分）』
津久井 勤 東海大学 |
| 2. |
『アンケート結果とイオンマイグレーションに関する評価試料について（30分）』
宇敷 滋 太陽インキ製造（株） |
| 3. |
『試験条件と試験方法について（30分）』
佐々木 正幸 （株）ケミトックス |
| 4. |
『環境試験装置について（30分）』
岡本 秀孝 （財）日本電子部品信頼性センター |
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-休憩（15分）- |
| 5. |
『絶縁計測関連について（30分）』
小林 吉一 楠本化成（株） |
| 6. |
『試験後の故障判定と分析・解析について（30分）』
中村 和裕 新光電気工業（株） |
| 7. |
『総合討論（10分）』 |
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参加費： |
| 学会会員（賛助会員含む） |
5,000円 |
| 非会員 |
8,000円 |
| （資料代・消費税込み） |
※参加費は，当日，会場受付で現金にて頂きます。
（請求書の発行はいたしません。） |
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参加申込： |
（1）氏名，（2）社名・所属部署，（3）住所，（4）TEL・FAX，（5）会員・非会員の区別，（6）会員の方は会員番号を記入の上，imt@jiep.name まで，Eメールでお申し込みください。
（下記文章をコピー＆ペーストでお願いいたします）
イオンマイグレーション試験法研究会御中
公開研究会参加申込書
下記の通り申し込みます
（1）氏名：
（2）社名・所属部署：
（3）住所：
（4）TEL・FAX：
（5）会員非会員種別：会員（会員番号 ）・非会員
（いずれかを消して下さい） |
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問合せ先： |
本研究会に関する問い合わせは，下記まで。
s-ushiki@taiyoink.co.jp または，tsukui@keyaki.cc.u-tokai.ac.jp |
